大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關(guān)于sem的成像原理的問題，以下是小編對(duì)此問題的歸納整理，讓我們一起來看看吧。

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本文目錄:

• 1、一般掃描電鏡的樣品為什么要進(jìn)行導(dǎo)電處理?

• 2、求大神幫解說一下什么是SEM XRD EDS 分析方法和原理 本人零基礎(chǔ) 大體了解一下

• 3、掃描電鏡sem的主要原理是什么？測(cè)試過程需要重點(diǎn)注意哪些操作

• 4、xrd sem tem原理是

一、一般掃描電鏡的樣品為什么要進(jìn)行導(dǎo)電處理?

1.測(cè)樣品導(dǎo)電處理，可以避免被測(cè)樣品表面形成電荷累積而影響圖像效果。

2.對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)電處理是要把多余的電荷導(dǎo)入大地，從而避免多余電荷的累積，對(duì)儀器造成損害。

二、求大神幫解說一下什么是SEM XRD EDS 分析方法和原理 本人零基礎(chǔ) 大體了解一下

SEM是掃描電子顯微鏡，最高可放大至20萬倍左右，用二次電子成像的原理來觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對(duì)應(yīng)的電子能不同，來鑒別元素，通常是和SEM結(jié)合使用，也就是說在SEM上安裝EDS附件，在觀看形貌時(shí)，選擇一定區(qū)域用EDS打能譜，也就知道了該區(qū)域的元素組成。XRD是X射線衍射儀，其原理是高壓下，陰極發(fā)出的電子形成高能電子束，轟擊陽極靶材（通常是Cu），靶材的內(nèi)部電子能量升高，被激發(fā)出來，當(dāng)它回到基態(tài)的過程中，多余的能量以X射線、俄歇電子等形式釋放出來。XRD收集的是其中的X射線，X射線掃到樣品上，會(huì)根據(jù)布拉格方程產(chǎn)生衍射角，衍射峰。每種物質(zhì)(不同樣品)的衍射峰不同，因此通常用來鑒別物相，也會(huì)根據(jù)峰面積算半定量。

三、掃描電鏡sem的主要原理是什么？測(cè)試過程需要重點(diǎn)注意哪些操作

電鏡的原理是：

電子槍

發(fā)出

電子束

打到樣品表面，激發(fā)出

二次電子

、

背散射電子

、X-ray等特征信號(hào)，經(jīng)收集轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，得到相應(yīng)的形貌或成分信息。

測(cè)試注意事項(xiàng)：

1、新人找別人幫忙測(cè)試時(shí)，

明確自己的測(cè)試內(nèi)容，如何樣品前處理，測(cè)試時(shí)間，然后跟測(cè)試相關(guān)人員聯(lián)系確定能否滿足你的測(cè)試需求

2、新人自己操作測(cè)試時(shí)，

明確自己的測(cè)試內(nèi)容，如何樣品前處理，測(cè)試時(shí)間，

測(cè)試時(shí)注意樣品干燥潔凈，操作時(shí)樣品和樣品臺(tái)避免撞到探頭

四、xrd sem tem原理是

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以測(cè)定晶格參數(shù),可以測(cè)定結(jié)構(gòu)方向、含量，可以測(cè)定材料的內(nèi)應(yīng)力，材料晶體的大小等等。一般主要是用來分析合金里面的相成分和含量。

樣品制備：

通常定量分析的樣品細(xì)度應(yīng)在1微米左右，即應(yīng)過320目篩。

SEM是利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等等。主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。

以上就是關(guān)于sem的成像原理相關(guān)問題的回答。希望能幫到你，如有更多相關(guān)問題，您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢，客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。

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