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sem測量范圍(sem測量原理)
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本文目錄:
一、sem測試圖上的5um和10um是什么意思
5um和10um意思如下:
5um和10um的線段就是個標尺的意思,那個線段的長度就是5um和10um,實物的一對照線段長度就知道尺寸了。
二、SEM和SD的區(qū)別是什么?
一、含義不同
mean表示都是平均數(shù)。
SEM是standard error of mean是平均數(shù)的抽樣誤差,反應平均數(shù)的抽樣準確性。
SD全稱standard deviation標準差,又常稱均方差,是離均差平方的算術(shù)平均數(shù)的平方根,用σ表示。
二、用法不同
SEM計估計值的準確性無法度量,但可以用統(tǒng)計方法來測量。
測試的誤差來源包括系統(tǒng)誤差和采樣誤差,這些誤差很容易克服,采樣誤差是由許多無法控制的內(nèi)部和外部因素引起的,這些因素都是偶然的,即使在測試中非常小心也很難消除,但可以通過增加重復次數(shù)來減少。
小樣本(n≤30)取平均值±標準差,大樣本(n>30)取平均值±標準差。
三、類型不同
標準差是方差的算術(shù)平方根。標準差可以反映數(shù)據(jù)集的離散程度。如果平均值相同,則標準差可能不相同。
標準誤差是用樣品的標準偏差除以樣品容量的平方根來計算的,標準誤差受樣本量影響較大,樣本量越大,標準誤差越小,抽樣誤差越小,說明樣本能夠更好地代表種群。
三、Mplus中關(guān)于SEM的介紹
結(jié)構(gòu)方程模型(SEM)包括連續(xù)潛變量之間的回歸模型(Bollen, 1989; Browne & Arminger, 1995;Joreskog & Sorbom, 1979)。也就是說,這些潛變量是連續(xù)的。這里需要注意的是:1. 潛變量(latent variables)是與觀察變量(Observed variables)相對的,可通過數(shù)據(jù)分析觀察;2. 觀察變量可以是連續(xù)的(continuous)、刪失的(censored)、二進制的(binary)、有序的(ordinal)、無序的(nominal)、計數(shù)的(counts),或者是這些類別的組合形式。
SEM有兩個部分:一個測量模型(measurement model)和一個結(jié)構(gòu)模型(structural model)。
測量模型 相當于一個多元回歸模型(multivariate regression model),用于描述一組可觀察的因變量和一組連續(xù)潛變量之間的關(guān)系。在此,這一組可觀察的因變量被稱為因子指標(factor indicators),這一組連續(xù)潛變量被稱為因子(factors)。
如何描述它們之間的關(guān)系?可以通過以下方式:
1. 若因子指標是連續(xù)的,用線性回歸方程(linear regression equations);
2. 若因子指標是刪失的,用刪失回歸或膨脹刪失回歸方程(censored normal or censored-inflated normal regression equations);
3. 若因子指標是有序的類別變量,用profit或logistic回歸方程(probit or logistic regression equations);
4. 若因子指標是無序的類別變量,用多元logistic回歸方程(multinomial logistic regression equations);
5. 若因子指標是計數(shù)的,用Poisson或零膨脹Poisson回歸方程(Poisson or zero-inflated Poisson regression equations)。
結(jié)構(gòu)模型 則在一個多元回歸方程中描述了三種變量關(guān)系:
1. 因子之間的關(guān)系;
2. 觀察變量之間的關(guān)系;
3. 因子和不作為因子指標的觀察變量之間的關(guān)系。
同樣,這些變量有不同的種類,所以要根據(jù)它們的類別來選擇合適的方程進行分析:
1. 若因子為因變量,及可觀察的因變量是連續(xù)的,用線性回歸方程(linear regression equations);
2. 若可觀察的因變量是刪失的,用刪失回歸或膨脹刪失回歸方程(censored normal or censored-inflated normal regression equations);
3. 若可觀察的因變量是二進制的或者是有序的類別變量,用profit或logistic回歸方程(probit or logistic regression equations);
4. 若可觀察的因變量是無序的類別變量,用多元logistic回歸方程(multinomial logistic regression equations);
5. 若可觀察的因變量是計數(shù)的,用Poisson或零膨脹Poisson回歸方程(Poisson or zero-inflated Poisson regression equations)。
在回歸中,有序的類別變量可通過建立比例優(yōu)勢(proportional odds)模型進行說明;最大似然估計和加權(quán)最小二乘估計(maximum likelihood and weighted least squares estimators)都是可用的。
以下特殊功能也可以通過SEM實現(xiàn):
1. 單個或多組分析(Single or multiple group analysis);
2. 缺失值(Missing data);
3. 復雜的調(diào)查數(shù)據(jù)(Complex survey data);
4. 使用最大似然估計分析潛變量的交互和非線性因子(Latent variable interactions and non-linear factor analysis using maximum likelihood);
5. 隨機斜率(Random slopes);
6. 限制線性和非線性參數(shù)(Linear and non-linear parameter constraints);
7. 包括特定路徑的間接作用(Indirect effects including specific paths);
8. 對所有輸出結(jié)果的類型進行最大似然估計(Maximum likelihood estimation for all outcome types);
9. bootstrap標準誤差和置信區(qū)間(Bootstrap standard errors and confidence intervals);
10. 相等參數(shù)的Wald卡方檢驗(Wald chi-square test of parameter equalities)。
以上功能也適用于CFA和MIMIC。
四、SEM與TEM的區(qū)別
一、性質(zhì)不同
1、SEM:根據(jù)用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機會盡可能將營銷信息傳遞給目標用戶。
2、TEM:把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。
二、原理不同
1、TEM
(1)吸收像:當電子被發(fā)射到高質(zhì)量和高密度的樣品時,主要的相位形成是散射。當樣品的質(zhì)量和厚度較大時,電子的散射角較大,通過的電子較小,圖像的亮度較暗。早期透射電子顯微鏡(TEM)就是基于這一原理。
(2)衍射像:電子束被樣品衍射后,樣品不同位置的衍射波振幅分布對應于樣品中晶體各部分的不同衍射能力。當出現(xiàn)晶體缺陷時,缺陷部分的衍射能力與整個區(qū)域的衍射能力不同,使得衍射波的振幅分布不均勻,反映了晶體缺陷的分布。
2、SEM
(1)用戶搜索;
(2)返回結(jié)果;
(3)查看結(jié)果;
(4)點擊內(nèi)容;
(5)瀏覽網(wǎng)站;
(6)咨詢搜索。
擴展資料:
TEM特點:
1、以電子束為光源,電磁場為透鏡。電子束的波長與加速電壓(通常為50-120千伏)成反比。
2、它由五部分組成:電子照明系統(tǒng)、電磁透鏡成像系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、記錄系統(tǒng)和電源系統(tǒng)。
3、分辨率為0.2nm,放大倍數(shù)可達一百萬倍。
4、透射電鏡分析技術(shù)是一種高分辨率(1nm)高倍率的電子光學分析技術(shù),它以波長很短的電子束為光源,聚焦于電磁透鏡成像。
5、用透射電鏡分析樣品,通常有兩個目的:一是獲得高倍率的電子圖像,二是獲得電子衍射圖樣。
6、透射電鏡常用于研究納米材料的結(jié)晶,觀察納米顆粒的形貌和分散度,測量和評價納米顆粒的粒徑。這是表征納米復合材料微觀結(jié)構(gòu)的常用技術(shù)之一。
參考資料來源:百度百科-TEM
參考資料來源:百度百科-搜索引擎營銷
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